詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 TCT-RT薄膜熱導率測試系統采用3ω測試方法,有效克服了樣品表面熱輻射現象,能夠良好測試微/納米薄膜材料的熱導率。
產(chǎn)品型號:TCT-RT所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-24 在線(xiàn)留言
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詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 TCT-RT薄膜熱導率測試系統采用3ω測試方法,有效克服了樣品表面熱輻射現象,能夠良好測試微/納米薄膜材料的熱導率。
產(chǎn)品型號:TCT-RT所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-24 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:采用專(zhuān)用高精度電阻測試儀和溫度測試儀以及四端測量法減小接觸電阻對測量的影響,測量材料電阻R隨溫度T的變化
產(chǎn)品型號:TRT-MT所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-24 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 MRS-3/MRS-3RT薄膜熱電參數測試系統專(zhuān)門(mén)針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量,測溫范圍達到81K~700K,采用動(dòng)態(tài)法測...
產(chǎn)品型號:MRS-3/MRS-3RT所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 PCA系列相變溫度分析儀根據材料相變前后光學(xué)性質(zhì)(反射光功率)有較大差異的特性,在程序控溫下,使用一束恒定功率的激光照射樣品表面,記錄反射...
產(chǎn)品型號:PCA系列所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 Namicro-3熱電參數測試系統是采用動(dòng)態(tài)法(具有技術(shù))和四線(xiàn)法分別測量樣品的Seebeck系數和電阻率。
產(chǎn)品型號:Namicro-3所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 TEA系列熱膨脹系數分析儀采用創(chuàng )新的光干涉原理技術(shù),可無(wú)損檢測塊體和薄膜樣品透明材料的熱膨脹系數,廣泛應用于輔助各種新材料,尤其是薄膜材料...
產(chǎn)品型號:TEA系列所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 OPA系列光功率熱分析儀
產(chǎn)品型號:OPA系列所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 TCT-HT變溫薄膜熱導率測試系統。
產(chǎn)品型號:TCT-HT所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 PTM系列便攜式澤貝克系數測試儀可快速測試Seebeck系數,對樣品無(wú)特殊要求,測量方法穩定可靠。
產(chǎn)品型號:PTM系列所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:武漢嘉儀通 LNT-500液氮低溫恒溫器是利用穩態(tài)氣泡原理使樣品處于恒定或按照所需方式變化的低溫環(huán)境中,并能對樣品進(jìn)行一種或多種物理性能測量的低溫恒溫...
產(chǎn)品型號:LNT-500所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:*的半導體熱特性測試儀
產(chǎn)品型號:T3Ster所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言詳細摘要: 簡(jiǎn)要描述:獲得的MOS多光束技術(shù)(二維激光陣列)
產(chǎn)品型號:TST-1200所在地:杭州市更新時(shí)間:2023-08-23 在線(xiàn)留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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